HAST高加速老化测试标准

HAST高加速老化测试是为了提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多为了提高试验效率、减少试验时间。HAST高加速老化试验HAST广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命试验。

评估固态组件之密封性，加速产品老化，缩短测试周期。HAST高加速老化测试是主要用于评估在湿度环境下产品或者材料的可靠性，是通过在高度受控的压力容器内设定和创建温度，湿度，压力，的各种条件来完成的，这些条件加速了水分穿透外部保护性塑料包装并将这些应力条件施加到模具/装置上。

HAST是加速防潮测试的更加加速版本,与高温/高湿度测试（85°C / 85％RH）相比，HAST会产生更多成分，接触由于湿气驱动的腐蚀和更多的绝缘劣化。HAST高加速老化测试已成为某些行业的标准，特别是在半导体，太阳能和其他工业中，作为标准温度湿度偏差测试（85C/85%RH-1000小时）的有效替代方案。

灯检测报告怎么办理？

目前，国际照明委员会（CIE）和国际电工委员会IEC）都还没有关于LED照明的标准，只有有关普通LED的测试标准和与普通光源有关的照明方面的标准。

普通LED灯箱的测试标准有：

1、IEC60747-5半导体分立器件及集成电路（1992）；

2、IEC60747-5-2半导体分立器件及集成电路零部件，5-2：光电子器件--分类特征及要素（1997-09）；

3、IEC60747-5-3半导体分立器件及集成电路，5-3：光电子器件--测试方法（1997-08）；

4、IEC60747-12-3半导体分立器件，12-3：光电子器件-显示用发光二极管空白详细标准（1998-02）；

5、CIE127-1997LED测试方法（1997）；

6、CIE/ISOLED强度测试标准。

国际照明委员会（CIE）1997年发表的CIE127-1997LED测试方法，把LED强度测试确定为平均强度的概念，并且规定了统一的测试结构和探测器大小，为LED的准确测试比对奠定了基础。虽然CIE127-1997测试方法并非，但它容易实施准确测试比对，目前世界上主要企业都已采用。但是随着技术的发展，许多新的LED技术特性在CIE127-1997LED测试方法中没有涉及。